Учебные материалы МГУИЭ
Аппаратура и методы для поверхностного исследования сегодня интенсивно развиваются. Это обусловлено практическими потребностями многообразных нынешних отраслей промышленности: интегральной оптики, оптоэлектроники, включая нанотехнологии.
Актуальными векторами данного развития считаются два плотно соединенные меж собой направления, конкретнее - это объединение методов спектроскопии с атомно-силовой микроскопией в едином приборе и результативной цифровой обработкой, что позволяет достаточно легко управлять итогами измерений, сохранять их и трансформировать, как 2D либо 3D изображения.
Представленное объединение различных технических устройств решает вопросы тестирования и привязки атомно-силовых, геометрических и прочих поверхностных свойств на уровне атомов при структурно-химических свойствах поверхности.
Данные о таких свойствах могут быть получены посредством спектральных методов, включая инфракрасную, рентгеновскую, а также спектроскопию комбинационного рассеяния.
Потому Альянс Оптических Систем (http://opticalalliance.ru/) теперь объединяет в едином серийном приборе даже нескольких отдельных устройств, к примеру: АСМ (атомно-силовой микроскоп), обычный оптический микроскоп и СБОМ (ближнепольный сканирующий оптический микроскоп).
При этом аппаратурное исполнение различных режимов (вариантов) функционирования АСМ (атомно-силового микроскопа) достигает 40, а это говорит про весомое многообразие физических явлений, связанных с особенностями изучения поверхностных свойств на уровне атомов.
При изучении этих явлений применяют СТМ, то есть, прибор, которым измеряют рельеф проводящих поверхностей с повышенным пространственным разрешением.